仪器照片

仪器名称

透射电子显微镜

型    号

F200

规    格

冷场高分辨率0.16nm

主要功能

JEM-F200(HR)冷场发射透射电镜可以观察样品微观形貌和衍射分析，并配合能谱仪进行微区成分分析。可以获得透射高分辨相，明场像、暗场像，STEM相，高角环形暗场像，衍射相，普通能谱、面扫、线扫、点扫的功能。

生产厂家

JEOL（日本电子）

购置日期

2017年8月

价    格

7347000元(人民币)

放置地点

理科2号楼 C111

负 责 人

刘力虎